ANOVA 方差分析：將因素對質(zhì)量特性的影響與誤差對質(zhì)量特性的影響加以區(qū)分并做出估計(jì)，然后進(jìn)行比較，分析、推斷哪些因素或哪些因素間的交互作用對質(zhì)量特性有顯著影響。

Attribute Data 計(jì)數(shù)數(shù)據(jù)：通過計(jì)數(shù)得到的不能連續(xù)取值的離散型數(shù)據(jù)。

Benchmarking 水平對比：將過程、產(chǎn)品和服務(wù)質(zhì)量同公認(rèn)的處于領(lǐng)先地位的競爭者進(jìn)行比較，從而找到改進(jìn)機(jī)會或確定突破目標(biāo)。

Black Belt 黑帶：來自企業(yè)各個部門，經(jīng)過6西格瑪改進(jìn)過程和工具的全面培訓(xùn)，熟悉6西格瑪改進(jìn)過程，具有較強(qiáng)的組織與協(xié)調(diào)能力，指導(dǎo)或領(lǐng)導(dǎo)6西格瑪改進(jìn)項(xiàng)目的進(jìn)行。

Bottom Line 底線：賬面上的利潤，是產(chǎn)品/服務(wù)的銷售成本和費(fèi)用的函數(shù)。

Box - plot 箱線圖：同時展示每個子群分布特征的5個統(tǒng)計(jì)量的坐標(biāo)圖。

Business Culture 企業(yè)文化：區(qū)別于其他組織的價值、觀點(diǎn)、期望、準(zhǔn)則和行為。

Cause-Effect Diagram 因果圖：也稱“石川圖”、“魚刺圖”，是揭示質(zhì)量特性波動與潛在原因的關(guān)系，即表達(dá)和分析因果關(guān)系的一種圖表。

Continuous Data 計(jì)量數(shù)據(jù)：通過測量得到的可任意取值的連續(xù)型數(shù)據(jù)。

Continuous Improvement 持續(xù)改進(jìn)：逐步的、永無止境的不斷改進(jìn)循環(huán)。

Control Chart 控制圖：以統(tǒng)計(jì)推斷理論為基礎(chǔ)，設(shè)置統(tǒng)計(jì)控制限，按時間坐標(biāo)顯示獨(dú)立測量值、平均值或其他統(tǒng)計(jì)值的折線圖。

COPQ （Cost Of Poor Quality）不良質(zhì)量成本損失：由于缺陷或不良質(zhì)量造成的成本損失。

CTQ （Critical to Quality）關(guān)鍵質(zhì)量特性：滿足關(guān)鍵的顧客要求或過程要求的產(chǎn)品或過程特性。

Defect 缺陷：不滿足CTQ規(guī)范的任何事件。

DOE （Design of Experiment）實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)：析因?qū)嶒?yàn)和相應(yīng)的改進(jìn)方法。

DPMO （Defect Per Million Opportunity）百萬缺陷機(jī)會缺陷數(shù)

DPO （Defect Per Opportunity）單位機(jī)會缺陷數(shù)

DPU （Defect Per Unit）單位缺陷數(shù)

SPC （Statistical Process Control）統(tǒng)計(jì)過程控制：生產(chǎn)過程中必用監(jiān)控分析的工具

FMEA （Failure Mode and Effects Analysis）失效模式與影響分析：用來分析產(chǎn)品或服務(wù)及其過程由于失效導(dǎo)致風(fēng)險的方法。

FTY （First Time Yield）首次產(chǎn)出率

Histogram 直方圖：用寬度相同的矩形表示數(shù)據(jù)分布的圖形工具。

KPIV （Key Process Input Variables）關(guān)鍵過程輸入變量

Long – Term Capability 長期能力

Mini-Tab 6西格瑪常使用的一種統(tǒng)計(jì)軟件

MSA （Measure System Analysis）測量系統(tǒng)分析

Multi-Vari Chart 多變量圖：直觀地提供過程各影響因素之間的關(guān)系以及它們對過程輸出影響的坐標(biāo)圖。 Null – Hypothesis 零假設(shè)，縮寫為H0

Pareto Chart 排列圖：也稱帕累托圖，由一個橫坐標(biāo)、兩個縱坐標(biāo)、幾個按高低順序排列的矩形和一條累積百分比折線組成的分析圖表。

Process Mapping 過程圖解

p-Value p值：偏離零假設(shè)的概率，是可能拒絕原假設(shè)而接受備擇假設(shè)的顯著性水平。

Regression Analysis 回歸分析：變量間關(guān)系的分析方法。

R&R （Repeatability & Reproducibility）測量系統(tǒng)的重復(fù)性與再現(xiàn)性

RTY （Rolled Throughput Yield）滾動產(chǎn)出率

Run Chart 運(yùn)行圖：按時間坐標(biāo)顯示統(tǒng)計(jì)量的折線圖。

QFD （Quality Function Deployment）質(zhì)量功能展開：將顧客的語言轉(zhuǎn)換為企業(yè)內(nèi)部技術(shù)術(shù)語的工具。

Scatter Plot 散布圖：研究兩變量間相關(guān)性的圖形工具。

Short – Term Capability 短期能力

SPC （Statistical Process Control）統(tǒng)計(jì)過程控制：用控制圖監(jiān)控和改進(jìn)過程的方法。

SSD （Smart Simple Design）聰明簡單設(shè)計(jì)

Team Charter 立項(xiàng)陳述報告

Top Line 頂線：真實(shí)表達(dá)顧客對企業(yè)滿意的收入。

Z 西格瑪水平：描述過程滿足顧客要求能力的參數(shù)。

Zst （Z Short Term）短期西格瑪水平/過程短期能力。

Zlt （Z Long Term）長期西格瑪水平/過程長期業(yè)績。